|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 64 gevonden artikelen
| Titel: |
Interface Evolution in a W/Si Multilayer after Rapid Thermal Annealing Studied by X-ray Reflectivity and Diffuse Scattering |
| Auteur: |
Jergel, M. Holý, V. Majková, E. Luby, S. Senderák, R. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 30 (1997) nr. 5-2 pagina's 642-646 |
| Jaar: |
1997-00-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 64 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |