|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
A new method of determining interplanar spacings with the back-reflection X-ray divergent beam technique |
| Auteur: |
Newman, B. A. Shrier, A. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 3 (1970) nr. 4 pagina's 280-281 |
| Jaar: |
1970-08-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |