|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 23 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
Quantitative Determination of Low-Phase Volume Fraction in Ferro-Silicon Alloys by the Rietveld Profile-Refinement Method. Neutron Diffraction Data Compared with Other Methods |
| Auteur: |
Guéneau, C. Servant, C. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 28 (1995) nr. 6 pagina's 707-716 |
| Jaar: |
1995-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 23 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |