|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
The half-widths of Bragg intensity profiles measured with a triple-crystal diffractometer at a synchrotron-radiation source. II. The half-widths of YIG and Si single crystals |
| Auteur: |
Rossmanith, E. Werner, M. Kumpat, G. Ulrich, G. Eichhorn, K. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 26 (1993) nr. 6 pagina's 756-762 |
| Jaar: |
1993-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |