|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 28 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray diffraction studies of annealed Czochralski-grown silicon. I. Double-crystal diffractometry |
| Auteur: |
Joksch, S. Zaumseil, P. Zulehner, W. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 26 (1993) nr. 2 pagina's 185-191 |
| Jaar: |
1993-04-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 28 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |