|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of epitaxic-layer composition and thickness by double-crystal X-ray diffraction |
| Auteur: |
Bassignana, I. C. Tan, C. C. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 22 (1989) nr. 3 pagina's 269-276 |
| Jaar: |
1989-06-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |