|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 38 gevonden artikelen
| Titel: |
Effect of divergence and receiving slit dimensions on peak profile parameters in Rietveld analysis of X-ray diffractometer data |
| Auteur: |
Madsen, I. C. Hill, R. J. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 21 (1988) nr. 5 pagina's 398-405 |
| Jaar: |
1988-00-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 38 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |