|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Sensitivity of X-ray diffractometry for strain depth profiling in III–V heterostructures |
| Auteur: |
Bensoussan, S. Malgrange, C. Sauvage-Simkin, M. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 20 (1987) nr. 3 pagina's 222-229 |
| Jaar: |
1987-06-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |