|
Some aspects of the X-ray structural characterization of (Ga1−xAlxAs)n1(GaAs)n2/GaAs(001) superlattices |
|
|
|
Titel: |
Some aspects of the X-ray structural characterization of (Ga1−xAlxAs)n1(GaAs)n2/GaAs(001) superlattices |
Auteur: |
Kervarec, J. Baudet, M. Caulet, J. Auvray, P. Emery, J. Y. Regreny, A. |
Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
Paginering: |
Jaargang 17 (1984) nr. 3 pagina's 196-205 |
Jaar: |
1984-06-01 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|