|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
A double-source double-crystal X-ray spectrometer for high-sensitivity lattice-parameter difference measurements |
| Auteur: |
Buschert, R. C. Meyer, A. J. Kauffman, D. S. Gotwals, J. K. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 16 (1983) nr. 6 pagina's 599-605 |
| Jaar: |
1983-02-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |