|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Absolute lattice parameter measurements of epitaxial layers |
| Auteur: |
Fewster, P. F. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 15 (1982) nr. 3 pagina's 275-278 |
| Jaar: |
1982-06-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 24 gevonden artikelen
| volgende >> |