|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
A high-sensitivity double-beam triple-crystal X-ray spectrometer for lattice parameter and topographic measurements |
| Auteur: |
Buschert, R. C. Pace, S. Inzaghi, D. Merlini, A. E. |
| Verschenen in: |
Journal of applied crystallography |
| Paginering: | Jaargang 13 (1980) nr. 3 pagina's 207-210 |
| Jaar: |
1980-06-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
International Union of Crystallography, 5 Abbey Square, Chester, Cheshire CH1 2HU, England |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |