|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of single crystal silicon and electroplated nickel films by uniaxial tensile test with in situ X-ray diffraction measurement |
| Auteur: |
NAMAZU, T. INOUE, S. |
| Verschenen in: |
Fatigue & fracture of engineering materials and structures |
| Paginering: | Jaargang 30 (2007) nr. 1 pagina's 13-20 |
| Jaar: |
2007-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Blackwell Publishing Ltd, Oxford, UK |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |