|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 90 gevonden artikelen
| Titel: |
Adaptive Memory Control Charts Constructed on Generalized Likelihood Ratio Test to Monitor Process Location |
| Auteur: |
Zaman, Babar Lee, Muhammad Hisyam Riaz, Muhammad Abujiya, Mu’azu Ramat Mehmood, Rashid Abbas, Nasir |
| Verschenen in: |
Arabian journal for science and engineering |
| Paginering: | Jaargang 47 () nr. 11 pagina's 15049-15081 |
| Jaar: |
2022-04-19 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Berlin Heidelberg, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 90 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |