|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
A physics-based electromigration reliability model for interconnects lifetime prediction |
| Auteur: |
Cai, Linlin Chen, Wangyong Kang, Jinfeng Du, Gang Liu, Xiaoyan Zhang, Xing |
| Verschenen in: |
Science China information sciences |
| Paginering: | Jaargang 64 () nr. 11 pagina's xx |
| Jaar: |
2021-10-12 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Science China Press, Beijing |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |