|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
Heavy ion micro-beam study of single-event transient (SET) in SiGe heterjunction bipolar transistor |
| Auteur: |
Zhang, Jinxin Guo, Hongxia Zhang, Fengqi He, Chaohui Li, Pei Yan, Yunyi Wang, Hui Zhang, Linxia |
| Verschenen in: |
Science China information sciences |
| Paginering: | Jaargang 60 (2017) nr. 12 pagina's 1-3 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Science China Press, Beijing |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |