|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparison of heavy-ion induced SEU for D- and TMR-flip-flop designs in 65-nm bulk CMOS technology - 65纳米体硅CMOS工艺D触发器和TMR触发器的重离子诱导单粒子翻转 |
| Auteur: |
He, YiBai Chen, ShuMing |
| Verschenen in: |
Science China information sciences |
| Paginering: | Jaargang 57 (2014) nr. 10 pagina's 1-7 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Science China Press, Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |