Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige   
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 8 van 8 gevonden artikelen
 
 
  Scratch-concerned yield modeling for IC manufacturing involved with a chemical mechanical polishing process
 
 
Titel: Scratch-concerned yield modeling for IC manufacturing involved with a chemical mechanical polishing process
Auteur: Zhu, Jiao-jiao
Luo, Xiao-hua
Chen, Li-sheng
Ye, Yi
Yan, Xiao-lang
Verschenen in: Journal of Zhejiang University, Science C, Computers & electronics
Paginering: Jaargang 13 (2012) nr. 5 pagina's 376-384
Jaar: 2012
Inhoud:
Uitgever: SP Zhejiang University Press, Heidelberg
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 8 van 8 gevonden artikelen
 
<< vorige   
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland