|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
The Temperature-Assisted Defect Detection in Rotating Machinery by Using Infrared Thermography Integrated Modified Artificial Neural Network-Based Image Processing: A Step Towards Futuristic Metrology |
| Auteur: |
Yadav, Ekta Chawla, V. K. |
| Verschenen in: |
Mapan |
| Paginering: | Jaargang 40 () nr. 2 pagina's 477-495 |
| Jaar: |
2025-03-06 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer India, New Delhi |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |