|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Smearing origin of zero-bias conductance peak in Ag-SiO-Bi2Sr2CaCu2O8+δplanar tunnel junctions: influence of diffusive normal metal verified with the circuit theory |
| Auteur: |
Shigeta, I. Tanaka, Y. Ichikawa, F. Asano, Y. |
| Verschenen in: |
European physical journal. B, Condensed matter and complex systems |
| Paginering: | Jaargang 54 () nr. 2 pagina's 141-149 |
| Jaar: |
2006-12-22 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
EDP Sciences, Les Ulis |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |