|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Impact of Process Variation on DC and Analog Characteristics of 2 nm Forksheet FET |
| Auteur: |
Kannam, Sai Lakshmi Prasanth Shubham, Pandey, Rajan Kumar |
| Verschenen in: |
SILICON |
| Paginering: | Jaargang 17 () nr. 6 pagina's 1323-1333 |
| Jaar: |
2025-03-07 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Netherlands, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |