|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
Impact of Buried Gate Oxide on the Electrical Performance of Negative Capacitance FinFETs: Design Perspectives |
| Auteur: |
Chauhan, Vibhuti Samajdar, Dip Prakash |
| Verschenen in: |
SILICON |
| Paginering: | Jaargang 16 () nr. 7 pagina's 3055-3062 |
| Jaar: |
2024-02-16 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Netherlands, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 35 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |