|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 41 gevonden artikelen
| Titel: |
Impact of Process Variation on Leakage and Drive Currents of FED Structures Using Linear Regression and Random Forest Algorithms |
| Auteur: |
Panneerselvam, Sasikala S, Sirish Bhattacharjee, Tanushyam Chandramani, Premanand Venkatesh Raj, Srinivasan |
| Verschenen in: |
SILICON |
| Paginering: | Jaargang 16 () nr. 2 pagina's 955-964 |
| Jaar: |
2023-10-25 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Netherlands, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 41 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |