|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
Improvements in Reliability and RF Performance of Stacked Gate JLTFET Using p+ Pocket and Heterostructure Material |
| Auteur: |
Vanak, Amin Amini, Amir Pishgar, Seyyed Hossein |
| Verschenen in: |
SILICON |
| Paginering: | Jaargang 15 () nr. 9 pagina's 4137-4147 |
| Jaar: |
2023-02-16 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Netherlands, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |