|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 24 van 36 gevonden artikelen
| Titel: |
Impact of High-temperature and Interface Traps on Performance of a Junctionless Tunnel FET |
| Auteur: |
Routh, Sujay Deb, Deepjyoti Baruah, Ratul Kumar Goswami, Rupam |
| Verschenen in: |
SILICON |
| Paginering: | Jaargang 15 () nr. 6 pagina's 2703-2714 |
| Jaar: |
2022-11-08 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Netherlands, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 24 van 36 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |