Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 34 van 35 gevonden artikelen
 
 
  The Strain Model for Globally Strained Silicon on Insulator Wafer Based on High-stress SiN Film Deposition
 
 
Titel: The Strain Model for Globally Strained Silicon on Insulator Wafer Based on High-stress SiN Film Deposition
Auteur: Jing, Yibo
Xu, Hao
Miao, Dongming
Guo, Yiwei
Han, Jia
Wang, Lin
Song, Jianjun
Dai, Xianying
Verschenen in: SILICON
Paginering: Jaargang 15 () nr. 12 pagina's 5115-5120
Jaar: 2023-03-24
Inhoud:
Uitgever: Springer Netherlands, Dordrecht
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 34 van 35 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland