|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 36 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparative Study on Random Interface Traps-Induced Reliability of NC-FinFETs and FinFETs |
| Auteur: |
Lü, Weifeng Zhang, Caiyun Chen, Dengke Han, Ying Wei, Weijie |
| Verschenen in: |
SILICON |
| Paginering: | Jaargang 15 () nr. 10 pagina's 4481-4488 |
| Jaar: |
2023-03-02 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Netherlands, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 36 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |