|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 32 van 80 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical Characterization of highly stable 10nm triple-gate FinFET for different contacts and oxide region materials |
| Auteur: |
Madhavi, Kalasapati Bindu Tripathi, Suman Lata |
| Verschenen in: |
SILICON |
| Paginering: | Jaargang 14 () nr. 18 pagina's 12281-12291 |
| Jaar: |
2022-05-14 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Netherlands, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 32 van 80 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |