|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 44 van 80 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of Noise Characteristics in Gate-Source Overlap Tunnel Field-Effect Transistor |
| Auteur: |
Sinha, Sanjeet Kumar Chander, Sweta Chaudhary, Rekha |
| Verschenen in: |
SILICON |
| Paginering: | Jaargang 14 () nr. 16 pagina's 10661-10668 |
| Jaar: |
2022-03-12 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Netherlands, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 44 van 80 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |