Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 57 van 82 gevonden artikelen
 
 
  Noise and Device Parameters Sensitivity Analysis of Multi-Peak-Gaussian Doped 4H-SiC Junctionless FET (MG-4H-SiC-JLFET)
 
 
Titel: Noise and Device Parameters Sensitivity Analysis of Multi-Peak-Gaussian Doped 4H-SiC Junctionless FET (MG-4H-SiC-JLFET)
Auteur: Singh, Sangeeta
Kumari, Arti
Mohammed, Mustafa K. A.
Verschenen in: SILICON
Paginering: Jaargang 14 () nr. 15 pagina's 9833-9843
Jaar: 2022-02-09
Inhoud:
Uitgever: Springer Netherlands, Dordrecht
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 57 van 82 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland