Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 24 van 65 gevonden artikelen
 
 
  Effects of Linearity and Reliability Analysis for HGO-DW-SCTFET with Temperature Variation for High Frequency Application
 
 
Titel: Effects of Linearity and Reliability Analysis for HGO-DW-SCTFET with Temperature Variation for High Frequency Application
Auteur: Kamal, Manshi
Yadav, Dharmendra Singh
Verschenen in: SILICON
Paginering: Jaargang 14 () nr. 11 pagina's 6379-6389
Jaar: 2021-10-05
Inhoud:
Uitgever: Springer Netherlands, Dordrecht
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 24 van 65 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland