|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 24 van 65 gevonden artikelen
| Titel: |
Effects of Linearity and Reliability Analysis for HGO-DW-SCTFET with Temperature Variation for High Frequency Application |
| Auteur: |
Kamal, Manshi Yadav, Dharmendra Singh |
| Verschenen in: |
SILICON |
| Paginering: | Jaargang 14 () nr. 11 pagina's 6379-6389 |
| Jaar: |
2021-10-05 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Netherlands, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 24 van 65 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |