|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 37 gevonden artikelen
| Titel: |
An Analytical Model Including Interface Traps and Temperature Effects in Negative Capacitance Double Gate Field Effect Transistor |
| Auteur: |
Dong, Yibiao Han, Ru Wang, Danghui Wang, Ruofei Guo, Chenmeng |
| Verschenen in: |
SILICON |
| Paginering: | Jaargang 13 () nr. 9 pagina's 3101-3111 |
| Jaar: |
2020-08-28 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Netherlands, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 37 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |