|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of Temperature Effect in Quadruple Gate Nano-scale FinFET |
| Auteur: |
Toan, Ho Le Minh Singh, Sruti Suvadarsini Maity, Subir Kumar |
| Verschenen in: |
SILICON |
| Paginering: | Jaargang 13 () nr. 7 pagina's 2077-2087 |
| Jaar: |
2020-08-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Netherlands, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 35 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |