|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 29 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
Reliability of Sub-20 nm Black Phosphorus Trench (BP-T) MOSFET in High-Temperature Harsh Environment |
| Auteur: |
Kumar, Ajay Gupta, Neha Chaujar, Rishu |
| Verschenen in: |
SILICON |
| Paginering: | Jaargang 13 () nr. 4 pagina's 1277-1283 |
| Jaar: |
2020-06-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Netherlands, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 29 van 35 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |