Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 29 van 35 gevonden artikelen
 
 
  Reliability of Sub-20 nm Black Phosphorus Trench (BP-T) MOSFET in High-Temperature Harsh Environment
 
 
Titel: Reliability of Sub-20 nm Black Phosphorus Trench (BP-T) MOSFET in High-Temperature Harsh Environment
Auteur: Kumar, Ajay
Gupta, Neha
Chaujar, Rishu
Verschenen in: SILICON
Paginering: Jaargang 13 () nr. 4 pagina's 1277-1283
Jaar: 2020-06-01
Inhoud:
Uitgever: Springer Netherlands, Dordrecht
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 29 van 35 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland