|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
A Study on Dual Dielectric Pocket Heterojunction SOI Tunnel FET Performance and Flicker Noise Analysis in Presence of Interface Traps |
| Auteur: |
Das, Debika Chakraborty, Ujjal |
| Verschenen in: |
SILICON |
| Paginering: | Jaargang 13 () nr. 3 pagina's 787-798 |
| Jaar: |
2020-05-08 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Netherlands, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |