|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 34 van 50 gevonden artikelen
| Titel: |
Performance Tuning and Reliability Analysis of the Electrostatically Configured Nanotube Tunnel FET with Impact of Interface Trap Charges |
| Auteur: |
Gupta, Ashok Kumar Raman, Ashish Kumar, Naveen |
| Verschenen in: |
SILICON |
| Paginering: | Jaargang 13 () nr. 12 pagina's 4553-4564 |
| Jaar: |
2020-10-22 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Netherlands, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 34 van 50 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |