Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 33 van 40 gevonden artikelen
 
 
  Simulation Study of Carbon Vacancy Trapping Effect on Low Power 4H-SiC MOSFET Performance
 
 
Titel: Simulation Study of Carbon Vacancy Trapping Effect on Low Power 4H-SiC MOSFET Performance
Auteur: Bencherif, Hichem
Dehimi, Lakhdar
Athamena, Nour eddine
Pezzimenti, Fortunato
Megherbi, Mohamed Larbi
Della Corte, Francesco Giuseppe
Verschenen in: SILICON
Paginering: Jaargang 13 () nr. 10 pagina's 3629-3637
Jaar: 2021-01-06
Inhoud:
Uitgever: Springer Netherlands, Dordrecht
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 33 van 40 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland