Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
   volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 1 van 25 gevonden artikelen
 
 
  A Comparative Study on Scaling Capabilities of Si and SiGe Nanoscale Double Gate Tunneling FETs
 
 
Titel: A Comparative Study on Scaling Capabilities of Si and SiGe Nanoscale Double Gate Tunneling FETs
Auteur: Bentrcia, Toufik
Djeffal, Fayçal
Ferhati, Hichem
Dibi, Zohir
Verschenen in: SILICON
Paginering: Jaargang 12 () nr. 4 pagina's 945-953
Jaar: 2019-06-04
Inhoud:
Uitgever: Springer Netherlands, Dordrecht
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 1 van 25 gevonden artikelen
 
   volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland