|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigating the Source Stack Engineering Effect on the Drive Current of a Tunneling Field Effect Transistor |
| Auteur: |
Farkoush, Behnaz Akbarnavaz Dideban, Daryoosh |
| Verschenen in: |
SILICON |
| Paginering: | Jaargang 12 () nr. 11 pagina's 2733-2740 |
| Jaar: |
2020-01-02 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Netherlands, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |