|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 31 van 100 gevonden artikelen
| Titel: |
Exploring the Threshold Voltage Characteristics and Short Channel Behavior of Gate Engineered Front Gate Stack MOSFET with Graded Channel |
| Auteur: |
Sarkhel, Saheli Saha, Priyanka Sarkar, Subir Kumar |
| Verschenen in: |
SILICON |
| Paginering: | Jaargang 11 () nr. 3 pagina's 1421-1428 |
| Jaar: |
2018-08-02 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Netherlands, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 31 van 100 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |