|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 42 van 60 gevonden artikelen
| Titel: |
Photoluminescence Study of Deep Level Defects in ZnO Thin Films |
| Auteur: |
Kabir, A. Bouanane, I. Boulainine, D. Zerkout, S. Schmerber, G. Boudjema, B. |
| Verschenen in: |
SILICON |
| Paginering: | Jaargang 11 (2018) nr. 2 pagina's 837-842 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Netherlands, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 42 van 60 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |