|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 60 gevonden artikelen
| Titel: |
A Study on the Electronic Properties of SiOxNy/p-Si Interface |
| Auteur: |
Akkaya, A. Boyarbay, B. Çetin, H. Yıldızlı, K. Ayyıldız, E. |
| Verschenen in: |
SILICON |
| Paginering: | Jaargang 10 (2018) nr. 6 pagina's 2717-2725 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Netherlands, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 60 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |