|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 61 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of microdefects in GaAs crystals with high-resolution X-ray diffractometry |
| Auteur: |
Zielińska-Rohozińska, E. Słupiński, T. Gronkowski, J. Harasimowicz, T. Borowski, J. |
| Verschenen in: |
Il nuovo cimento. D |
| Paginering: | Jaargang 19 (1997) nr. 2-4 pagina's 625-635 |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Società Italiana di Fisica, Bologna |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 61 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |