|
Ge δ layer in Si(100) characterized by X-ray reflectivity, grazing incidence diffraction and standing-wave measurements |
|
|
|
Titel: |
Ge δ layer in Si(100) characterized by X-ray reflectivity, grazing incidence diffraction and standing-wave measurements |
Auteur: |
Beck, U. Yang, P. Metzger, T. H. Peisl, J. Falta, J. Materlik, G. Rupp, T. Baumgärtner, H. Eisele, I. Patel, J. R. |
Verschenen in: |
Il nuovo cimento. D |
Paginering: |
Jaargang 19 (1997) nr. 2-4 pagina's 403-410 |
Jaar: |
1997 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Società Italiana di Fisica, Bologna |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|