|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 22 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
Shallow- and deep-levels analysis in irradiated medium-resistivity silicon detectors |
| Auteur: |
Borchi, E. Bruzzi, M. Menichelli, M. Pirollo, S. |
| Verschenen in: |
Il nuovo cimento. A |
| Paginering: | Jaargang 112 (1999) nr. 11 pagina's 1359-1367 |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Società Italiana di Fisica, Bologna |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 22 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |