High-voltage breakdown studies on Si microstrip detectors
Titel:
High-voltage breakdown studies on Si microstrip detectors
Auteur:
Albergo, S. Angarano, M. M. Azzi, P. Babucci, E. Bacchetta, N. Bader, A. Bagliesi, G. Basti, A. Biggeri, U. Bilei, G. M. Bisello, D. Boem i, D. Bosi, F. Borrello, L. Bozzi, C. Braibant, S. Breuker, H. Bruzzi, M. Buffini, A. Busoni, S. Calefato, G. Candelori, A. Caner, A. Castaldi, R. Castro, A. Catacchini, E. Checcucci, B. Ciampolini, P. Civinini, C. Creanza, D. D’Alessandro, R. Da Rold, M. Demaria, N. de Palm a, M. Dell’Orso, R. Della Marina, R. Dutta, S. Eklund, C. Elliott-Peisert, A. Feld, L. Fiore, L. Focardi, E. French, M. Freudenreich, K. Fürtjes, A. Giassi, A. Giorgi, M. Giraldo, A. Glessing, B. Gu, W. H. Hall, G. Hammerstrom, R. Hebbeker, T. Hrubec, J. Huhtinen, M. Kam insky, A. Karim aki, V. Koenig, St. Krammer, M. Lariccia, P. Lenzi, M. Loreti, M. Luebelsmeyer, K. Lustermann, W. Mättig, P. Maggi, G. Mannelli, M. Mantovani, G. Marchioro, A. Mariotti, C. Martignon, G. Mc Evoy, B. Meschini, M. Messineo, A. My, S. Paccagnella, A. Palla, F. Pandoulas, D. Papi, A. Parrini, G. Passeri, D. Pieri, M. Piperov, S. Potenza, R. Radicci, V. Raffaelli, F. Raymond, M. Santocchia, A. Schm itt, B. Selvaggi, G. Servoli, L. Sguazzoni, G. Siedling, R. Silvestris, L. Skog, K. Starodum ov, A. Stavitski, I. Stefanini, G. Tempesta, P. Tonelli, G. Tricom i, A. Tuuva, T. Vannini, C. Verdini, P. G. Viertel, G. Xie, Z. Yahong, Li Watts, S. Wittmer, B.