|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Analytical threshold voltage modeling of ion-implanted strained-Si double-material double-gate (DMDG) MOSFETs |
| Auteur: |
Goel, Ekta Singh, Balraj Kumar, Sanjay Singh, Kunal Jit, Satyabrata |
| Verschenen in: |
Indian journal of physics |
| Paginering: | Jaargang 91 (2016) nr. 4 pagina's 383-390 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer India, New Delhi |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 14 gevonden artikelen
| volgende >> |