|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Image Quality Analysis and Testing Process for Microlens Array-Based Optical Devices with High-Resolution Image Reconstruction |
| Auteur: |
Vu, Van Truong Yi, Hyunbean Park, Youngdurk Lee, Hocheol |
| Verschenen in: |
International journal of precision engineering and manufacturing |
| Paginering: | Jaargang 26 () nr. 5 pagina's 1215-1225 |
| Jaar: |
2024-12-19 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Korean Society for Precision Engineering, Seoul |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |