|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
YOLOv4-Based Semiconductor Wafer Notch Detection Using Deep Learning and Image Enhancement Algorithms |
| Auteur: |
Wang, Hao Sim, Hyo Jun Hwang, Jong Jin Kwak, Sung Jin Moon, Seung Jae |
| Verschenen in: |
International journal of precision engineering and manufacturing |
| Paginering: | Jaargang 25 () nr. 9 pagina's 1909-1916 |
| Jaar: |
2024-08-16 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Korean Society for Precision Engineering, Seoul |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 17 gevonden artikelen
| << vorige |