|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Characteristic of SiC Slurry in Ultra Precision Lapping of Sapphire Substrates |
| Auteur: |
Yin, Tao Wang, ZhiDa Doi, Toshiro Kurokawa, Syuhei Tan, Zhe Ding, XiaoKang Lin, Huan |
| Verschenen in: |
International journal of precision engineering and manufacturing |
| Paginering: | Jaargang 22 () nr. 6 pagina's 1021-1029 |
| Jaar: |
2021-04-13 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Korean Society for Precision Engineering, Seoul |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |